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장비정보

기본정보

장비활용범위 단독활용이지만 공동활용가능
장비구분 부대장비 장비용도 분석
장비명(한글) 재질특성분석기 장비명(영문) XRF
NTIS 장비등록번호 NFEC-2010-12-117230
모델명 SII Nano Technology Inc SEA5120A
제작사명 SII Nano Technology Inc 제작국가 일본
취득날짜 20060913 내용연수(년) 15
취득금액 95397953

이용정보

장비이미지
장비설명 XRF는 대부분의 다른 원소의 분석 방법과는 대조적으로 시료를 파괴하지 않고 측정할 수 있는 비파괴 분석으로 고전압에서 하전된 고속의 전자가 target에 충돌하면서 생성된 백색 X-선을 시 료에 조사하게 되면 각기 다른 원자에서 다른 파장의 X-선 (형광 X-선)이 방출 되는데 이를 분광 결정을 통해 분광하면 시료의 정성분석(어떤 원소, 성분이 있는지를 분석)과 정량분석(어떤 원소가 얼마나 있는지를 분석).
장비구성 및 성능 X-ray generator Sample observation optics system Sample stage Detector
장비활용 예 1) 무기물, 금속 등의 정성·정량 2) 유기물 oil 등의 미량성분 정성·정량 3) Plastic 및 석유화학 제품의 중금속 성분 분석 4) 분진, 토양 등 환경과 관련된 유해성분 분석
이용수수료 형태 건별 이용수수료(원) 20000
장비소유기관 FITI시험연구원 장비책임자 강부원
장비책임자전화번호 043-711-8880 장비책임자이메일 bwkang@fiti.re.kr
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